断層のK-Ar年代学

田村 肇; 佐藤 佳子*

地質技術, (3), p.21 - 25, 2013/09

地質環境の長期安定性を評価するに際して、対象地域に存在する断層の最終活動年代を知ることは重要である。断層の活動年代は層序や複数の年代測定法による年代値を総合的に検討して判断されるべきであるが、断層試料のK-Ar年代測定値以外の情報を得るのが難しい場合、その年代値が唯一の根拠となることがある。本稿では、断層試料に対するK-Ar年代測定法の適用について解説する。年代測定の対象となる試料として、シュードタキライトと断層ガウジ中の自生イライトが注目されている。しかしいずれも、試料の処理や年代値の解釈に困難があり、未だ試行錯誤の段階にあるといってよい。シュードタキライトの分析を行う際は、レーザー融解法によるAr-Ar年代測定のようなスポット分析により、断層活動に伴う摩擦溶融によってシュードタキライトが生成する際に十分に融解し、大気と平衡になった部分を選択的に分析することが重要であると言える。断層ガウジのイライトを分析する際は、1マイクロメートル程度の細粒な試料を得たうえで、含まれているイライトが自生のものであるかどうかについて、電子顕微鏡による観察や粉末X線回折法により検討することが重要であると言える。